SATを用いたATPG困難故障に対する冗長故障判定の高速化(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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近年,VLSIのテストではより100%の故障検出効率が求められている.しかしながら,VLSIの大規模化や複雑化に伴い,検出可能故障か冗長故障であるかを現実的な時間でATPGが判断することが不可能な故障が増大している.それらの処理が打ち切られた故障は未検出故障として処理されてしまうため,故障検出効率100%のテストパターン集合を得ることは困難である.打ち切り故障は,実際には冗長故障であることが多い.それゆえ,冗長故障を効率よく判定する技術が重要になる.本稿では従来の冗長故障判定法に充足可能性問題の解法を用いた正当化可能判定処理を付加した手法を提案する.ITC'99ベンチマーク回路を用いて本提案手法の有効性を示す.
- 2009-02-09
著者
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