テスト不可能故障の検出数の削減のためのスキャンテスト生成法(システムレベル設計,システム設計及び一般)
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概要
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LSIの製造歩留まり向上策の一つとして過剰テストが重要となってきている.過剰テストの抑制策のひとつとして,テスト不可能故障を検出しないことがある.スキャン設計された回路では,スキャンチェーンを利用したシフト動作によって,無効状態に遷移させることができる.テスト不可能故障は無効状態からのみ検出される.そこで本論文では,マルチサイクルキャプチャテストを用いたテスト不可能故障の検出数を少なくするテストパタン生成方法を手案する.提案手法はκサイクルキャプチャテストパタン生成,テストパタン切り出し,故障シミュレーションとテストパタン選択から構成されている.故障シミュレーションによって,個々のテストパタンごとにテスト不能故障数の検出数を求めることによって,テストパタン集合全体のテスト不能故障の検出数の削減を行う.
- 2009-05-13
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