VLSIの製造バラつきと経年劣化を考慮したアダプティブフィールドテストにおけるパス選択法に関する考察

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概要

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• 2011-11-21

著者

• 細川 利典

  日本大学生産工学部

• 吉村 正義

  九州大学大学院システム情報科学研究院

• 柏崎 智史

  日本大学大学院生産工学研究科

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