状態可観測な不完全記述 FSM の機能テスト法(上流 DFT, VLSI 設計とテスト及び一般)
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概要
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状態可観測な完全記述FSMは, すべての状態遷移を実行することで, 完全な機能テストが可能であることが知られている.しかしながら, 実際にはFSMは不完全に記述されることがある.本論文では, 完全記述, 不完全記述にかかわらずFSMの状態が観測できるようにテスト容易化設計を施した, 状態可観測なFSMを対象とした故障モデル非依存な機能テスト法と故障モデル依存テスト生成法を提案する.故障モデル依存テスト生成法は, 論理故障モデルを対象とした1パターンテストと, タイミング故障モデルを対象とした2パターンテストに基づいている.MCNC'91ベンチマーク回路に対して本提案法を適用した結果, 従来法と比較して平均29.4%のテスト長の増加で, 面積を13.2%削減し, 状態遷移被覆率を4.3倍向上させることができた.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2005-02-11
著者
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