遷移故障テスト圧縮指向制御ポイント挿入法(遅延故障テスト,VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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近年,半導体集積技術の進展に伴い,大規模集積回路(LSI)が大規模化,高集積化している.LSIが大規模化,高集積化することによって回路内のゲート数が増加しており,それに比例してテストパターン数も増加している.また,縮退故障モデルのみのテストでは検出することが困難なタイミング遅延を伴う欠陥や信号線間の短絡による欠陥も増加しており,縮退故障の検出に加えて遷移故障やブリッジ故障の検出が重要となっている.本論文では,遷移故障を検出するためのテストパターン数を削減する方法として,ブロードサイド方式において制御ポイントを挿入する方法を提案する.制御ポイントを挿入することによってテストパターン中のドントケア数が増加し,テスト圧縮の効率が高まると考えられる.
- 2010-02-08
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