マルチサイクルキャプチャ遷移故障テスト生成を用いたテスト不可能故障の原因解析(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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過剰テストは,歩留まり低下の原因の一つとなる.テスト不可能故障は,回路の機能動作に影響を与えない故障である.しかしながらスキャンテストにおいて,テスト不可能故障はスキャンチェインを通じて検出される可能性がある.テスト不可能故障を検出することが,過剰テストになると考えられる.テスト不可能故障は,制御不能故障と観測不能故障,制御・観測不能故障に分類できる.制御不能故障は,スキャンチェインを通じてシフトイン動作により,無効状態が設定されて検出される可能性がある.観測不能故障は,外部出力で観測することはできないが,故障の影響はFFに伝搬している場合がある.そのため,スキャンチェインを通じてシフトアウト動作により,検出される可能性がある.近年,テスト不可能故障の検出数を削減する手法がいくつか提案されている.これらの手法は主に無効状態を特定し,無効状態を回避したテスト生成を行う.しかしながらこれらの手法では,観測不能故障の検出数を削減することはできない.本論文では,マルチサイクルキャプチャテストを用いて,制御・観測不能故障を同定する.ISCAS'89ベンチマーク回路を用いて,テスト不可能故障同定数と故障励起時刻との関係を解析し,またテスト不可能故障と同定される要因について解析する.
- 2010-02-08
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