隣接信号線を考慮したオープン故障の一モデルとその故障診断(BISTと故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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配線の微細化,長距離化,および銅配線(Cu配線)の導入等によって,スクラッチ,ポイド等の物理欠陥が配線およびViaの断線(オープン)となって顕在化する.しかしながら,オープン故障のモデルおよびその故障検査法は確立していない.そこで,本稿では,隣接信号線を考慮したオープン故障モデルを提案する.このオープン故障モデルは,テストによって割当てられた隣接信号線の論理値に依存して故障状態が励起する.次に,提案するオープン故障モデルに基づく故障診断法について述べる.提案する故障診断法は,隣接信号線の状態に依存する故障励起条件に着目した検出/非検出情報に基づいて,故障候補の信号線を推定する.最後に,提案した故障診断法をISCASベンチマーク回路および大規模ベンチマーク回路に対して適用した実験結果を示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2006-02-10
著者
-
山崎 浩二
明治大学情報コミュニケーション学部
-
高橋 寛
愛媛大学大学院理工学研究科
-
樋上 喜信
愛媛大学工学部情報工学科
-
高橋 寛
愛媛大学工学部情報工学科
-
高松 雄三
愛媛大学工学部情報工学科
-
高松 雄三
愛媛大学
-
山崎 浩二
明治大学
-
門山 周平
愛媛大学大学院
-
武智 清
愛媛大学大学院理工学研究科情報工学専攻
-
樋上 喜信
愛媛大学大学院
-
高松 雄三
愛媛大学工学部
-
Takahashi Hiroshi
The Authors Are With The Faculty Of Engineering Ehime University
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