ゲートレベルを用いたトランジスタショートに対するテスト生成法(セッション3 : テスト生成, VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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縮退故障や2線間ブリッジなど従来の故障モデルによるテストでは検出されないような欠陥が増大している.従って,従来の故障モデルでないトランジスタレベルの故障モデルによるテストが望まれている.本稿では,論理テスト環境においてトランジスタショートを検出するためのテスト生成法を提案する.まずトランジスタショートの故障動作を論理ゲート出力値に着目して定義し,故障モデルを構築する.この故障モデルを用いた場合,トランジスタレベルのシミュレーションは不要であり,ゲートレベルの故障シミュレータやテスト生成器を用いて,故障シミュレーションやテスト生成が可能である.提案するモデルに対して,故障検出率や故障検出効率について議論する.また,等価故障判定および冗長故障判定についても述べる.テスト生成では,回路変更を行い,縮退故障用テスト生成器を用いた手法を提案する.提案法の有効性は,ベンチマーク回路に対する実験を行うことで示される.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2007-02-02
著者
-
小林 真也
愛媛大学 工学部
-
樋上 喜信
愛媛大学大学院理工学研究科
-
小林 真也
愛媛大学大学院理工学研究科
-
Saluja KewalK
Department of Electrical and Computer Engineering, University of Wisconsin - Madison
-
高橋 寛
愛媛大学大学院理工学研究科
-
高松 雄三
愛媛大学大学院理工学研究科
-
高松 雄三
愛媛大学
-
高橋 寛
愛媛大学大学院
-
樋上 喜信
愛媛大学大学院
-
サルージャ ケーワルk.
Department Of Electrical And Computer Engineering University Of Wisconsin - Madison
-
Saluja Kewal
ウィスコンシン大学
-
Saluja Kewal
ウィスコンシン大学マディソン校
-
Saluja Kewal
Univ. Of Wisconsin-madison Dept. Of Electrical And Computer Engineering
-
Saluja Kewal
ウイスコンシン大学
-
Saluja Kewal
Department Of Electrical & Computer Engineering Uw-madison
-
Takahashi Hiroshi
The Authors Are With The Faculty Of Engineering Ehime University
-
高松 雄三
愛媛大学大学院 理工学研究科
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