D-10-1 ハードウェア設計に対するソフトウェアメトリクスの適用(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般講演)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2007-03-07
著者
-
阿萬 裕久
愛媛大学
-
阿萬 裕久
愛媛大学大学院理工学研究科
-
高橋 寛
愛媛大学理工学研究科電子情報工学専攻
-
高松 雄三
愛媛大学理工学研究科電子情報工学専攻
-
高橋 寛
愛媛大学大学院理工学研究科
-
高松 雄三
愛媛大学
-
樋上 喜信
愛媛大学大学院
-
池田 裕輔
愛媛大学
-
市川 直樹
愛媛大学
-
樋上 喜信
愛媛大学 工学部
-
高橋 寛
愛媛大学 工学部情報工学科
-
Takahashi Hiroshi
The Authors Are With The Faculty Of Engineering Ehime University
-
高橋 寛
愛媛大学
-
樋上 喜信
愛媛大学
関連論文
- ウインターワークショップ2008・イン・道後開催報告
- JCKBSE2006会議報告
- ソフトウェアエンジニアリングシンポジウム2008開催報告(調査・報告・教育)
- 抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について (ディペンダブルコンピューティング)
- プログラミング・コンテストEPOCH報告
- D-10-3 スキャン回路におけるクロストーク故障の検出可能性について(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- D-10-1 ハードウエアテスト生成ツールを用いた組み込みシステムのテストケース生成について(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- ゲートレベルを用いたトランジスタショートに対するテスト生成法(セッション3 : テスト生成, VLSI設計とテスト及び一般)
- 組合せ回路および順序回路に対する検出・非検出情報に基づく診断用テスト圧縮法(テスト容易化設計,システムLSI設計とその技術)
- 組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト技術)
- 故障励起関数を利用したオープン故障の診断法
- オープンソースソフトウェアにおけるコードの安定性予測に向けたゴンペルツ曲線の適用(ソフトウェアの品質特性)
- オープンソース開発におけるバグ報告累積数の成長曲線モデルを用いた分析
- 抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
- TEGチップのデジタル測定によるオープン故障のモデル化の検討(故障モデル・故障許容・故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- 故障励起関数を利用したオープン故障の診断法(ディペンダブルコンピューティング)
- 隣接信号線を考慮したオープン故障のテストパターンについて(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地-)
- オープン故障診断の性能向上について(設計/テスト/検証)
- 隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法(故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- 隣接信号線を考慮したオープン故障の一モデルとその故障診断(BISTと故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- 検出/非検出情報に基づく複数故障モデルに対する故障診断法(故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
- 検出/非検出情報に基づくオープン故障診断への誤り経路追跡法の適用(故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
- 不確かなテスト集合の検出/非検出情報に基づくオープン故障の診断法(BIST と故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
- 不確かなテスト集合の検出/非検出情報に基づくブリッジ故障の診断法(BIST と故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
- 不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- 不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 論理回路の故障診断法 : 外部出力応答に基づく故障箇所指摘法の発展(ディペンダブルコンピューティング)
- 要望リストからの要望モデル構築
- 要望リストからの要求獲得支援に関する研究
- マハラノビス・タグチ法に基づいたソフトウェア品質予測法
- ドメインモデルに対する要求獲得支援
- 変更履歴情報に着目した依存関係分析
- ドメインモデルに対する要求獲得支援
- 変更履歴情報に着目した依存関係分析
- ソースコードの外部依存率と保守性との関係に関する考察
- クラスの凝集度と修正保守性との関係に関する考察
- ソースコードの保守工程における変更連鎖の追跡とその解析
- ソースコードの外部依存率と保守性との関係に関する考察
- クラスの凝集度と修正保守性との関係に関する考察
- ソースコードの保守工程における変更連鎖の追跡とその解析
- クラスの凝集度と修正保守性との関係に関する考察
- B_020 ソースコードにおけるコメント文の密度と保守性との関係に関する考察(B分野:ソフトウェア)
- クラスの変更履歴と依存関係に基づいた同時更新モデルの提案(学生セッション,一般)
- オープンソース開発における障害報告とソースコードの変更コストとの関係分析
- クラスの再利用頻度と保守性の関係に関する一考察
- ソフトウェアメトリクスの定量的検証法に関する研究
- ウインターワークショップ2008・イン・道後開催報告
- ウインターワークショップ2009・イン・宮崎開催報告
- ウインターワークショップ2009・イン・宮崎開催報告
- ウインターワークショップ2009・イン・宮崎開催報告
- オープンソース開発におけるコード変更量の数理モデル化と予測について : 成長曲線モデルを用いた実験
- 検出可能な遅延故障サイズを考慮した遅延故障診断法(ディペンダブルコンピューティング)
- 縮退故障用ATPGを用いた遷移故障の診断用テスト生成法(設計/テスト/検証,設計/テスト/検証)
- D-10-19 遅延故障シミュレーションに基づく欠陥診断(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- 組合せ回路に対する欠陥考慮テストパターンの一生成法(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- D-10-2 動的なオープン故障に対するテストパターン生成法(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- 遷移故障に対する診断用テスト生成法(故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- D-10-2 縮退故障テストを利用したオープン故障のテスト生成法(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般講演)
- D-10-1 ハードウェア設計に対するソフトウェアメトリクスの適用(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般講演)
- 直交表を用いた単体テストに関する考察 : JUnit支援ツールの試作
- 直交表を用いた単体テストに関する考察 : JUnit支援ツールの試作
- フォールト潜在予測に向けたコメント文記述及びコメントアウトの定量分析
- 複数のソースファイルでハードコード化された情報に対する保守支援ツールの試作
- メトリクス値に基づいた重点レビュー対象モジュールの選択に関する考察 : 整数計画法の利用
- ウインターワークショップ2009・イン・宮崎 開催報告
- 組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト技術)
- オープンソース開発におけるコード変更量の推移予測に関する考察 : 成長曲線モデルの適用
- ソースコードの保守工程における変更連鎖と安定性の関係解析
- 組合せ回路におけるクリティカル経路の検出
- 組合せ回路におけるクリティカル経路の一検出法
- ソースコードにおけるコメントの頻度と保守性の関係解析
- オープンソースソフトウェアの安定性予測に向けたデータ解析
- オープンソース開発におけるソースコードの安定性予測について
- オープンソース開発におけるバグ数見積りに向けた管理図と成長曲線モデルの利用
- オープンソース開発におけるバグ数見積りに向けた管理図と成長曲線モデルの利用
- オープンソース開発におけるコードの追加及び修正の分布に関する考察
- ソースコードの変更量におけるPareto原理とそれを用いたプロジェクトの定常状態解析
- ソースコードの変更量におけるPareto原理とそれを用いたプロジェクトの定常状態解析
- 順序回路に対するIDDQテスト時間短縮について
- 順序回路に対するIDDQテスト時間短縮について
- 順序回路に対するIDDQテスト時間短縮について
- 論理回路の故障診断法 : 外部出力応答に基づく故障箇所指摘法の発展
- ソフトウェアメトリクスとデータ分析の基礎 (特集 ソフトウェア工学)
- オープンソース開発におけるコード変更の連鎖とその発生率について(学生,一般)
- オープンソースソフトウェアにおけるコメント記述およびコメントアウトとフォールト潜在との関係に関する定量分析
- オープンソースソフトウェアにおけるコード変更事象のモデル化に関する考察
- オープンソースソフトウェアにおけるコード変更事象のモデル化に関する考察
- ソフトウェアメトリクスとデータ分析の基礎
- コード間の依存関係及びクローン関係に着目したコード変更の生存時間解析
- コメント記述量の増加傾向とフォールト潜在との関係に関する定量分析 (知能ソフトウェア工学)
- コメント記述量の増加傾向とフォールト潜在との関係に関する定量分析 (ソフトウェアサイエンス)
- 第19回アジア太平洋ソフトウェア工学国際会議(APSEC2012)参加報告
- コメント記述量の増加傾向とフォールト潜在との関係に関する定量分析(一般)
- コメント記述量の増加傾向とフォールト潜在との関係に関する定量分析(一般)
- 特集「ソフトウェア工学」の編集にあたって