樋上 喜信 | 愛媛大学大学院

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概要

• 同名の論文著者
• 愛媛大学大学院の論文著者

関連著者

• 樋上 喜信

  愛媛大学大学院

• 高松 雄三

  愛媛大学

• 高橋 寛

  愛媛大学大学院理工学研究科

• Takahashi Hiroshi

  The Authors Are With The Faculty Of Engineering Ehime University

• 樋上 喜信

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 樋上 喜信

  愛媛大学工学部情報工学科

• 高松 雄三

  愛媛大学工学部

• 高松 雄三

  愛媛大学工学部情報工学科

• 山崎 浩二

  明治大学

• 高橋 寛

  愛媛大学大学院

• 山崎 浩二

  明治大学情報コミュニケーション学部

• 樋上 喜信

  愛媛大学 工学部

• 高橋 寛

  山形大 工

• 小林 真也

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 高橋 寛

  愛媛大学工学部情報工学科

• 小林 真也

  愛媛大学 工学部

• 高松 雄三

  愛媛大学大学院 理工学研究科

• 高松 雄三

  愛媛大学理工学研究科電子情報工学専攻

• 高松 雄三

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 四柳 浩之

  徳島大学大学院

• 橋爪 正樹

  徳島大学大学院

• 堤 利幸

  明治大学

• 樋上 喜信

  愛媛大学

• 平田 孝志

  大阪大学大学院工学研究科

• 平田 孝志

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 相京 隆

  半導体理工学研究センター(STARC)

• 四柳 浩之

  徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部

• 小林 真也

  愛媛大学工学部

• 橋爪 正樹

  徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部 情報ソリューション部門

• 相京 隆

  愛媛大学大学院理工学研究科

• サルージャ ケーワルk.

  Department Of Electrical And Computer Engineering University Of Wisconsin - Madison

• Saluja Kewal

  ウィスコンシン大学

• Saluja Kewal

  ウィスコンシン大学マディソン校

• Saluja Kewal

  Univ. Of Wisconsin-madison Dept. Of Electrical And Computer Engineering

• Saluja Kewal

  ウイスコンシン大学

• 四柳 浩之

  徳島大学

• 相京 隆

  愛媛大学大学院 理工学研究科

• 高橋 寛

  愛媛大学理工学研究科電子情報工学専攻

• 堤 利幸

  明治大学大学院理工学研究科

• 山本 幸大

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 山本 幸大

  愛媛大 大学院理工学研究科

• 高橋 寛

  愛媛大学

• 西山 隆広

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 梶原 誠司

  九州工業大学:jst Crest

• 高橋 寛

  愛媛大学 工学部情報工学科

• 樹下 行三

  大阪学院大 情報

• 梶原 誠司

  九州工業大学

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科

• 刈谷 泰由紀

  明治大学大学院理工学研究科

• Saluja Kewal

  Univ. Wisconsin‐madison Usa

• Yotsuyanagi Hiroyuki

  Faculty Of Engineering The Univ. Of Tokushima

• Yotsuyanagi Hiroyuki

  Dept. Of Information Solution Institute Of Technology And Science University Of Tokushima

• 山崎 浩二

  明治大学理工学部情報科学科

• 佐藤 雄一

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 渡部 哲也

  愛媛大学大学院

• 樹下 行三

  大阪大学 大学院工学研究科

• 高橋 直子

  愛媛大学大学院理工学研究科

• Saluja Kewal

  Department Of Electrical & Computer Engineering Uw-madison

• 矢野 健太郎

  千葉大学臓器制御外科

• 阿萬 裕久

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 矢野 健太郎

  東京慈恵会医科大学外科

• 矢野 健太郎

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 樋上 喜信

  愛媛大学理工学研究科電子情報工学専攻

• 小林 真也

  愛媛大学理工学研究科電子情報工学専攻

• SALUJA KEWAL

  Department of Electrical and Computer Engineering, University of Wisconsin-Madison

• 堤 利幸

  明治大学理工学部情報科学科

• 堤 利幸

  明治大学理工学部

• 佐藤 康夫

  九州工業大学

• 矢野 健太郎

  愛媛大

• 市原 英行

  広島市立大学大学院情報科学研究科

• 門山 周平

  愛媛大学大学院

• 武智 清

  愛媛大学大学院理工学研究科情報工学専攻

• 吉川 達

  愛媛大学大学院理工学研究科電子情報工学専攻

• 小林 真也

  愛媛大学

• Saluja Kewal

  Department Of Electrical And Computer Engineering University Of Wisconsin-madison

• 酒井 孝郎

  愛媛大学大学院

• 亀山 修一

  富士通株式会社:愛媛大学

• 馬場 雅之

  富士通株式会社

• 野中 倫明

  東京都立大塚病院 外科

• 林 達哉

  旭川医科大学耳鼻咽喉科・頭頸部外科学講座

• 相京 隆

  (株)半導体理工学研究センター

• 阿萬 裕久

  愛媛大学

• 亀山 修一

  富士通株式会社

• 和泉 太佑

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 遠藤 洋記

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 廣瀬 雅人

  愛媛大学工学部情報工学科

• 阿萬 裕久

  愛媛大学理工学研究科電子情報工学専攻

• 釜山 天平

  愛媛大学工学部情報工学科

• Saluja KewalK

  Department of Electrical and Computer Engineering, University of Wisconsin - Madison

• サルージャ ケーワルK.

  ウィスコンシン大学

• 久原 俊介

  愛媛大学

• 清家 悠

  愛媛大学

• 市原 英行

  広島市立大学情報科学部

• 小野 恭平

  愛媛大学大学院理工学研究科電子情報工学専攻博士前期課程

• 首藤 祐太

  愛媛大学大学院

• 高棟 佑司

  愛媛大学大学院

• 船津 和也

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 山崎 亜佳根

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 精山 哲也

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 栗山 和樹

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 相京 隆

  半導体理工学研究セ

• 相京 隆

  株式会社半導体理工学研究センター

• 小林 真也

  愛媛大

• 大津 潤一

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 清水 隆治

  (株)半導体理工学研究センター

• 黒瀬 洋介

  愛媛大学大学院理工学研究科電子情報工学専攻

• 大野 智志

  愛媛大学大学院理工学研究科電子情報工学専攻

• 山岡 弘典

  愛媛大学大学院理工学研究科電子情報工学専攻

• 清水 良浩

  株式会社半導体理工学研究センター

• 岡山 浩士

  愛媛大学

• 清水 祐紀

  愛媛大学

• 池田 裕輔

  愛媛大学

• 市川 直樹

  愛媛大学

• 山崎 浩二

  明治大学 理工学部 情報科学科

• 大岡 哲也

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 松村 和紀

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 佐藤 康夫

  九州工業大学大学院情報工学研究院

• 樹下 行三

  大阪大学大学院工学研究科応用物理専攻

• 樹下 行三

  大阪学院大学情報学部

• 清水 隆治

  (株)半導体理工学研究センター:(現)富士通マイクロエレクトロニクス(株)

• Kajihara S

  Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn

• 綾野 秀和

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 古谷 博司

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 堤 利幸

  明治大学 理工学部

• 樋上 喜信

  愛媛大学大学院 理工学研究科

• 山崎 浩二

  明治大学 情報コミュニケーション学部

• 四柳 浩之

  徳島大学大学院 先端技術科学教育部

• 亀山 修一

  愛媛大学大学院理工学研究科:富士通株式会社

• 四柳 浩之

  徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部情報ソリューション部門

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著作論文

• 2ZA-5 携帯電話を利用した個人向け情報配信システムにおける情報のランク付け(情報社会を支える技術(1),学生セッション,コンピュータと人間社会)
• 携帯電話を利用した個人向け情報配信システムの開発(携帯端末・ユビキタスネットワーク)
• 2ZA-2 個人向け情報配信システムにおける文字情報のフィルタリングに関する研究(情報社会を支える技術(1),学生セッション,コンピュータと人間社会)
• ネットワークコーディングを用いた光グリッドネットワーク(ネットワーク管理・設計,無線)
• 光グリッドネットワークにおけるネットワークコーディングを用いたファイル配置法(ルーチング,コンテンツ配信,ルーチングシステム(適応ルーチング,QoSルーチング,マルチキャスト),ネットワークアプリケーション(IP-TV,ストリーミング,Web2.0),一般)
• D-10-3 スキャン回路におけるクロストーク故障の検出可能性について(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
• D-10-1 ハードウエアテスト生成ツールを用いた組み込みシステムのテストケース生成について(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
• ゲートレベルを用いたトランジスタショートに対するテスト生成法(セッション3 : テスト生成, VLSI設計とテスト及び一般)
• 組合せ回路および順序回路に対する検出・非検出情報に基づく診断用テスト圧縮法(テスト容易化設計,システムLSI設計とその技術)
• 組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト技術)
• 順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
• 順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について
• 一般ユーザを対象とした自律負荷分散方式利用コマンドの実装
• 光グリッドネットワークにおける波長資源を考慮した複製選択及び転送手法(ネットワークシステム関連技術,一般,高度プロトコル・ネットワーキング技術(IP及び高位レイヤルーチング・フィルタリング,マルチキャスト,品質・経路制御),IPNWの利用技術(P2P,P4P,オーバレイ,SIP,NGN),ネットワークシステム関連技術(システム構成法,インタフェース,アーキテクチャ,ハードウェア・ソフトウェア・ミドルウェア),一般)
• 光グリッドネットワークにおけるトラヒック種別を考慮したスケジューリング手法(ネットワークソフトウエア(ソフトウエアアーキテクチャ,ミドルウエア),NWアプリケーション,SOA/SDP,NGN/IMS/API,分散制御・ダイナミックルーチング,グリッド,NW及びシステム信頼性,NW及びシステム評価,一般)
• 抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
• TEGチップのデジタル測定によるオープン故障のモデル化の検討(故障モデル・故障許容・故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
• 故障励起関数を利用したオープン故障の診断法(ディペンダブルコンピューティング)
• 隣接信号線を考慮したオープン故障のテストパターンについて(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
• TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
• TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
• TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地-)
• オープン故障診断の性能向上について(設計/テスト/検証)
• 隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法(故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
• 隣接信号線を考慮したオープン故障の一モデルとその故障診断(BISTと故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
• 検出/非検出情報に基づく複数故障モデルに対する故障診断法(故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
• 検出/非検出情報に基づくオープン故障診断への誤り経路追跡法の適用(故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
• 不確かなテスト集合の検出/非検出情報に基づくオープン故障の診断法(BIST と故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
• 不確かなテスト集合の検出/非検出情報に基づくブリッジ故障の診断法(BIST と故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
• 不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
• 不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 論理回路の故障診断法 : 外部出力応答に基づく故障箇所指摘法の発展(ディペンダブルコンピューティング)
• 光グリッドネットワークにおけるバックワード型波長予約を利用した複製ファイル選択手法(モバイル,アドホック,ユビキタス,無線,セキュリティ,マルチアクセス,アクセスネットワーク・User Network Interface,Homeネットワーク,一般)
• 検出可能な遅延故障サイズを考慮した遅延故障診断法(ディペンダブルコンピューティング)
• 縮退故障用ATPGを用いた遷移故障の診断用テスト生成法(設計/テスト/検証,設計/テスト/検証)
• D-10-19 遅延故障シミュレーションに基づく欠陥診断(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
• 組合せ回路に対する欠陥考慮テストパターンの一生成法(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
• D-10-2 動的なオープン故障に対するテストパターン生成法(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
• 遷移故障に対する診断用テスト生成法(故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
• D-10-2 縮退故障テストを利用したオープン故障のテスト生成法(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般講演)
• D-10-1 ハードウェア設計に対するソフトウェアメトリクスの適用(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般講演)
• 5ZL-4 個人向け情報配信システムにおける情報フィルタリング精度改善手法(マーケティング・情報抽出,学生セッション,コンピュータと人間社会,情報処理学会創立50周年記念)
• 組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト技術)
• 順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
• 検出/非検出情報に基づくオープン故障の一診断法(ディペンダブルコンピューティング)
• テストの検出/非検出情報に基づくオープン故障の診断法(VLSI設計とテスト)
• 論理回路に対するテスト実行時間削減法
• BIST環境における不確かなテスト集合による単一縮退故障の一診断法(診断, LSIのテスト・診断技術論文)
• 不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
• 不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 不確かな診断テスト集合による単一/多重縮退故障の診断法(VLSI設計とテスト)
• 論理回路に対するテストコスト削減法 : テストデータ量及びテスト実行時間の削減
• 順序回路のブリッジ故障に対するIDDQテストのための静的なテスト系列圧縮法 (テストと設計検証論文特集)
• 順序回路に対するIDDQテスト時間短縮について
• 順序回路に対するIDDQテスト時間短縮について
• 順序回路に対するIDDQテスト時間短縮について
• D-10-8 活性化経路評価関数に基づくパターン選択(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
• リセット機能を持つ順序回路に対するテスト系列圧縮法
• 論理回路の故障診断法 : 外部出力応答に基づく故障箇所指摘法の発展
• 順序回路に対する消費電力削減のためのテストベクトル変更法(システムLSIの設計技術と設計自動化)
• 単一冗長故障を含む2重縮退故障に対するテスト生成について
• 2重縮退故障に対するテスト生成について
• 単一冗長故障を含む2重縮退故障に対するテスト生成について
• 単一冗長故障を含む2重縮退故障に対するテスト生成について
• 欠陥検出テストのためのテストパターン選択(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
• マルチファイバWDMネットワークにおける後方型波長予約を用いた経路及び波長選択手法(ポストIPネットワーキング,新世代ネットワーク,ネットワークモデル,インターネットトラヒック,TCP/IP,マルチメディア通信,ネットワーク管理,リソース管理,プライベートネットワーク,NW安全性及び一般)
• 招待講演 シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み (ディペンダブルコンピューティング)
• バウンダリスキャンテストにおける新たな課題 : 相互接続テスト中にIC内部で発生している問題の考察(テスト生成・レスト容易化設計,VLSI設計とテスト及び一般)
• オープン故障診断の性能向上について
• シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み(設計/テスト/検証)
• バンダリスキャンテスト実行時のIC内部の擾乱(研究速報)
• シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み

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