シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み(設計/テスト/検証)
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概要
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本研究では,電磁界シミュレーションおよび半断線故障TEGの製作・測定に基づいてシグナルインティグリティ不良の原因となる配線の半断線故障の振る舞いを解明する.さらに,得られた解析結果に基づいて半断線故障に対する故障検査法を提案する.これらの研究成果は,2009年度から2011年度に行った(株)半導体理工学研究センター(STARC)との共同研究成果である.
- 2012-06-15
著者
-
堤 利幸
明治大学
-
四柳 浩之
徳島大学大学院
-
橋爪 正樹
徳島大学大学院
-
山崎 浩二
明治大学
-
高橋 寛
愛媛大学大学院
-
樋上 喜信
愛媛大学大学院
-
高橋 寛
山形大 工
-
四柳 浩之
徳島大学
-
四柳 浩之
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部
-
Yotsuyanagi Hiroyuki
Faculty Of Engineering The Univ. Of Tokushima
-
Yotsuyanagi Hiroyuki
Dept. Of Information Solution Institute Of Technology And Science University Of Tokushima
-
四柳 浩之
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部情報ソリューション部門
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