隣接TSVを考慮したTSV遅延故障検出法について(遅延テスト, VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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本研究では断線TSV(Through-Silicon-Via)により発生する遅延故障を検出するために,隣接TSVを考慮したTSV遅延故障検出法を提案する.断線故障TSVにおいて発生する遅延量は極めて小さく,故障の検出が困難である しかし,断線TSVで発生する遅延は正常時と比較しクロストークの影響を強く受ける 本稿では,断線TSVにおいて発生する遅延量を増加させる適切な信号を隣接TSVに印加し,遅延検出部で増加した遅延量を測定することが可能なTSV遅延故障検出回路を提案する 提案回路に必要となる遅延検出部の分解能を推定するため,シミュレーションにより回路動作時に断線TSVで発生する遅延量を求める また,提案回路より隣接TSVに信号が印加されるタイミングの差が遅延量に与える影響の評価を行う.
- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 2013-02-06
著者
-
四柳 浩之
徳島大学大学院
-
橋爪 正樹
徳島大学大学院
-
四柳 浩之
徳島大学
-
四柳 浩之
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部
-
四柳 浩之
徳島大学大学院 ソシオテクノサイエンス研究部 情報ソリューション部門
-
四柳 浩之
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部情報ソリューション部門
-
中村 真規
徳島大学大学院先端技術科学教育部 システム創生工学専攻 電気電子創生工学コース
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