テストデータ量削減のための反転信号シフト型BAST構成とテストパターン生成法
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概要
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- 2011-11-21
著者
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四柳 浩之
徳島大学大学院
-
橋爪 正樹
徳島大学大学院
-
四柳 浩之
徳島大学
-
四柳 浩之
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部
-
Yotsuyanagi Hiroyuki
Faculty Of Engineering The Univ. Of Tokushima
-
Yotsuyanagi Hiroyuki
Dept. Of Information Solution Institute Of Technology And Science University Of Tokushima
-
岡田 靖彦
徳島大学大学院 先端技術科学教育部 システム創生工学専攻 電気電子創生工学コース
-
四柳 浩之
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部情報ソリューション部門
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