Sequential Redundancy Removal Using Test Generation and Multiple Strongly Unreachable States(Special Issue on Test and Verification of VLSI)
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概要
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A procedure to remove redundancies in sequential circuits is proposed using strongly unreachable states, which are the states with no incoming transitions. Test generation is used to find undetectable faults related to two or more strongly unreachable states. Experimental results show the new procedure can find more redundancies of sequential circuits.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2002-10-01
著者
-
YOTSUYANAGI Hiroyuki
Facullty of Engineering, The University of Tokushima
-
Tamesada T
Faculty Of Engineering The Univ. Of Tokushima
-
Tamesada Takeomi
Faculty Of Engineering Tokushima University
-
Hashizume M
Faculty Of Engineering The Univ. Of Tokushima
-
Hashizume Masaki
Faculty Of Engineering Tokushima University
-
Yotsuyanagi Hiroyuki
Faculty Of Engineering The Univ. Of Tokushima
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