CMOS Open Defect Detection by Supply Current Measurement under Time-Variable Electric Field Supply(Special Issue on Test and Verification of VLSI)

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概要

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• In this paper, a new test method is proposed for detecting open defects in CMOS logic ICs. The method is based on supply current of ICs generated by supplying time-variable supply voltage and electric field from the outside of the ICs. Also, test input vectors for the test method are proposed and it is shown that they can be generated more easily than functional test methods based on stuck-at fault models. The feasibility of the test is examined by some experiments. The empirical results promise us that by using the method, open defects in CMOS ICs can be detected.

• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 2002-10-01

著者

• HASHIZUME Masaki

  Faculty of Engineering, The Univ. of Tokushima

• TAMESADA Takeomi

  Faculty of Engineering, The Univ. of Tokushima

• ICHIMIYA Masahiro

  Facullty of Engineering, The University of Tokushima

• YOTSUYANAGI Hiroyuki

  Facullty of Engineering, The University of Tokushima

• Tamesada T

  Faculty Of Engineering The Univ. Of Tokushima

• 四柳 浩之

  徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部

• Tamesada Takeomi

  Faculty Of Engineering Tokushima University

• Hashizume M

  Faculty Of Engineering The Univ. Of Tokushima

• Hashizume Masaki

  Faculty Of Engineering Tokushima University

• Ichimiya Masahiro

  Faculty Of Engineering The Univ. Of Tokushima

• Yotsuyanagi Hiroyuki

  Faculty Of Engineering The Univ. Of Tokushima

• Yotsuyanagi H

  Faculty of Engineering, The Univ. of Tokushima

• Ichimiya M

  Faculty of Engineering, The Univ. of Tokushima

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