算数・数学を学習することの意義を考える : 教師の,数学の学習に向き合う姿が,算数・数学の学習の楽しさ・大切さを伝える(<特集>私の考える数学教育の意義)

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 2012-11-01

著者

• 山崎 浩二

  明治大学

• 山崎 浩二

  岩手大学教育学部

関連論文

• マルチサイクルキャプチャ遷移故障テスト生成を用いたテスト不可能故障の原因解析(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
• 抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
• TEGチップのデジタル測定によるオープン故障のモデル化の検討(故障モデル・故障許容・故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
• 中学校数学科の授業改善と数学的活動の充実 : その期待と責任(新教育課程に向けて(V))
• 授業改善の工夫 (現職教員セミナーの実施報告 数学科)
• 中学校数学科における問題解決の授業に関する一考察
• 問題の発展的な取り扱いの指導の研究とその評価 : カリキュラム開発研究の立場から(4.教育課程・教科書,口頭発表の部)
• 中学校数学科における問題解決の授業(II 発表,問題解決研究部会,「テーマ別研究部会」発表集録)
• PS中-1 第9回数学教育世界会議(ICME9)にむけて
• J2 オープンエンドの問題の開発方法並びに評価方法に関する一考察 : 2次元マトリックス分析を通して(J.その他分科会)
• 6A-9 中学校数学科における数学的モデル化の教材の導入に関する事例的研究(その3)
• 中学校数学科における規約的なモデルを取り扱った課題の授業分析
• 数学的モデリングの導入段階における目標とその授業展開のあり方に関する事例的研究
• J2 中学校数学科における規約的なモデルを取り扱った課題の授業分析(J その他分科会)
• 10-2 中学校数学科における数学的モデル化の可能性に関する事例的研究(その2) : 規約的なモデルを用いた課題開発とその授業分析
• I2 中学校数学科における数学的モデリングの可能性に関する事例的研究(I その他 分科会)
• PS-3 数学的モデリングの指導法に関する研究
• 12-4 中学校数学科における数学的モデリングの可能性に関する事例的研究
• 故障励起関数を利用したオープン故障の診断法(ディペンダブルコンピューティング)
• 隣接信号線を考慮したオープン故障のテストパターンについて(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
• TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
• TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
• TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地-)
• オープン故障診断の性能向上について(設計/テスト/検証)
• 隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法(故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
• 隣接信号線を考慮したオープン故障の一モデルとその故障診断(BISTと故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
• 検出/非検出情報に基づく複数故障モデルに対する故障診断法(故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
• 検出/非検出情報に基づくオープン故障診断への誤り経路追跡法の適用(故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
• 不確かなテスト集合の検出/非検出情報に基づくオープン故障の診断法(BIST と故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
• 不確かなテスト集合の検出/非検出情報に基づくブリッジ故障の診断法(BIST と故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
• 不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
• 不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• Pass/Fail情報を用いた単一ブリッジ故障の診断における診断テストと故障モデルの関係(VLSI設計とテスト)
• CPLDのPLAブロックにおけるクロスポイント故障および縮退故障の診断法
• テストパターンの静的圧縮における厳密解と貧欲解の比較(上流テスト・テスト圧縮,VLSI設計とテスト及び一般)
• 論理回路の故障診断法 : 外部出力応答に基づく故障箇所指摘法の発展(ディペンダブルコンピューティング)
• PS中-1 ICME9に向けて
• PS中-2 数学教育世界会議 : ICME8とICME9
• テスト不可能故障の検出数の削減のためのスキャンテスト生成法(システムレベル設計,システム設計及び一般)
• スキャンテストにおけるテスト不可能故障の検出を削減するためのテスト生成法(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
• SATを用いたATPG困難故障に対する冗長故障判定の高速化(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
• マルチサイクルキャプチャテストを用いたフルスキャン設計回路の縮退故障テスト生成(スキャンテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
• テスト生成における決定ノードの有効性解析(セッション3 : テスト生成, VLSI設計とテスト及び一般)
• 算数・数学の確かな学力を育むための豊かな授業づくりを : 考えることを楽しむ子どもたちを育てていくために(私の数学教育研究)
• 故障活性化率向上のための可変n回テスト生成法とその品質評価に関する研究(スキャンテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
• 故障活性化率向上のためのn回検出テスト生成法(ディペンダブルコンピューティング研究専門委員会推薦論文,ディペンダブルコンピューティング)
• 正当化経路に着目した故障診断向きテスト生成に関する一考察(セッション2 : 故障シミュレーションと故障診断, VLSI設計とテスト及び一般)
• n 回検出テストの故障診断に対する有用性に関する一考察(故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
• 算数・数学を学習することの意義を考える : 教師の,数学の学習に向き合う姿が,算数・数学の学習の楽しさ・大切さを伝える (特集 私の考える数学教育の意義)
• 算数・数学を学習することの意義を考える : 教師の,数学の学習に向き合う姿が,算数・数学の学習の楽しさ・大切さを伝える(私の考える数学教育の意義)
• シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み(設計/テスト/検証)
• テスト圧縮効率化のためのテスト生成に関する一考察(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
• テスト圧縮効率化のためのテスト生成に関する一考察(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
• シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク