故障活性化率向上のための可変n回テスト生成法とその品質評価に関する研究(スキャンテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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高品質なテストパターンの生成法の1つとして,n回検出テスト生成法が知られている.しかしながら,n回検出テスト集合の定義にしたがってテスト生成を行った場合,テスト品質の向上に寄与しないテストが多数生成されることがある.この問題を解決したテスト生成法として,故障活性化率指向n回検出テストがある.しかしながら,故障活性化率指向n回検出テスト生成を用いても,すべての故障をn回検出するなかで,故障箇所からの経路数が多い場合に故障活性化率は向上しない.本論文では,さらに故障活性化率の向上を目的とし故障ごとにnの回数を変える可変n回検出テスト生成を提案し,そのテスト品質を統計的遅延品質レベルで評価する.ISCAS'89ベンチマーク回路による計算機実験により,故障活性化率の向上が統計的遅延品質レベルの向上につながることを示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2008-02-01
著者
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