テストパターンの静的圧縮における厳密解と貧欲解の比較(上流テスト・テスト圧縮,VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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本稿ではドントケアに基づく静的テストパターン圧縮をクリーク被覆問題や頂点彩色問題として定式化し,厳密解法と貪欲解法による解法実験を行った.その結果,今回実験を行ったほとんどのテストパターンについて圧縮されたテストパターン数の上界と下界が厳密解と一致することがわかった.また,この性質はテストパターンの生成方法を変えても保たれていた.このことから,貪欲法の解は厳密解に非常に近いことがわかり,多数の回路に対して長時間かけて厳密解を求める効果が少ないことがわかった.さらに圧縮の妨げになっているテストパターンを示し,圧縮効果を高める方法を考察する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2008-02-01
著者
-
玉木 久夫
明治大学
-
山崎 浩二
明治大学情報コミュニケーション学部
-
細川 利典
日本大学生産工学部
-
山崎 浩二
明治大学
-
玉木 久夫
明治大学理工学部情報科学科
-
八木澤 圭
明治大学理工学研究科
-
玉木 久夫
明治大学理工学部
-
玉木 久夫
日本アイ・ビー・エム 東京基礎研
-
Hisao Tamaki
Meiji University
-
玉木 久夫
明治大学理工学研究科
-
Tamaki H
Department Of Computer Science Faculty Of Science And Engineering Meiji University
-
Tamaki Hisao
Tokyo Research Laboratory Ibm Japan
-
Tamaki Hisao
The School Of Science And Technology Meiji University
-
Tamaki Hisao
Department Of Computer Science Meiji University
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