テスト圧縮指向ドントケア抽出法(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
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概要
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近年VLSIの大規模化,複雑化に伴い,テストパターン数の増大、故障モデルの多様化が問題となっている.それらの問題を解決するために高品質,低コストのテストパターンが必要となっている.高品質,低コストのテスト生成を実現する手法の一つとしてドントケア抽出が存在する.しかしながら,従来のドントケア抽出技術では特定のテストパターンや外部入力にドントケアビットが偏ってしまい,テスト圧縮など特定の適用分野に悪影響を及ぼしている可能性がある.本論文では,入力されたテスト集合に対しケアビットを制御し,圧縮に効果的なドントケア抽出法を提案する.ITC'99ベンチマーク回路とISCAS'89ベンチマーク回路と本手法で生成したテスト集合に対しテスト圧縮を適用し,圧縮率を評価したので報告する.
- 2009-11-25
著者
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