検出容易故障に着目したドントケア数増加手法 : BASTアーキテクチャへの適用(スキャンテスト・テスト容易化高位合成,VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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LSIのテスト品質を維持しながら,テストデータ量を大幅に削減する手法の一つとして,組込み自己テストと自動テスト生成を組み合わせたテスト手法であるBASTが提案されている.BASTアーキテクチャにおいて,擬似ランダムパターン生成器で生成された擬似ランダムパターンを決定的パターンに変換するためにビット反転を用いている.テストデータ量やテスト実行時間を削減するためには,ビット反転数を削減する必要がある.本論文では,検出回数がN回以下である故障集合を検出するために,不必要な値をドントケアとするランダムパターンレジスタント故障検出用ドントケア抽出法を提案する.さらに,擬似ランダムパターンのビット反転数を削減するために,決定的パターン集合に対してランダムパターンレジスタント故障検出用ドントケア抽出を適用して,擬似ランダムパターンとマッピングする手法を提案する.ISCAS'89とITC'99のベンチマックに対して計算機実験を行い,本提案手法がビット反転数削減に効果的であることを示す.
- 2009-02-09
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