ケアビット分布制御ドントケア抽出 : キャプチャ消費電力削減への適用(設計/テスト/検証)
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概要
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近年VLSIの大規模化,複雑化に伴い,テストパターン数の増大、故障モデルの多様化,テスト時の過剰な消費電力による誤テストが問題となっている.それらの問題を解決するために高品質,低コスト,低消費電力用のテスト生成が必要となっている.高品質,低コスト,低消費電力のテスト生成を実現する手法の一つとしてドントケア抽出技術が存在する.しかしながら,従来のドントケア抽出技術では特定のテストパターンや擬似外部入力にドントケアビットが偏り,スキャンテストにおけるキャプチャ消費電力の削減やチップ温度均一化などの適用分野に効果的でない可能性がある.本論文では,入力されたテストパターン集合に対しケアビットを制御したドントケア抽出法を提案する.ITC'99ベンチマーク回路を用いて,本手法によってドントケア抽出したテストパターン集合に対して,低キャプチャ消費電力指向ドントケア割当てを適用し,キャプチャセーフ判定を行ったので報告する.
- 2011-06-17
著者
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