n 回検出テストの故障診断に対する有用性に関する一考察(故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
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概要
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LSIの大規模化に伴い、従来の単一縮退故障検出用テスト集合では検出できない欠陥の問題が大きくなっている。n回検出テストは簡単に高品質なテストを生成する手法の1つとして注目されている。本稿では、n回検出テスト集合及び多重外部出力検出テスト集合(MPOD)の診断能力を評価する。またMPODの問題点を指摘し、その改善点を提案する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2005-02-11
著者
-
山崎 浩二
明治大学理工学部情報科学科
-
山崎 浩二
明治大学情報コミュニケーション学部
-
細川 利典
日本大学生産工学部
-
山崎 浩二
明治大学
-
細川 利典
日本大学大学院生産工学研究科
-
石黒 僚
明治大学理工学部
-
中里 大祐
株式会社システム・ジェイディー
-
中里 大祐
システムジェイディー
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