検出/非検出情報に基づく複数故障モデルに対する故障診断法(故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
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概要
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LSIの微細化加工技術の進展ならびに高集積化・高速化に伴い, 回路の欠陥の原因を究明することはますます困難になっている.また, 故障診断を開始する際に, 被検査回路に生じた欠陥のふるまいがどの故障モデルで説明できるかを知ることはできない.更に, BIST環境では, 被検査回路の故障を検出するテストで誤り出力を観測できる外部出力およびフリップフロップの位置を知ることは一般に困難である.そこで本研究では, 検出/非検出情報のみを用いて複数の故障モデルに対する故障診断法を提案する.提案する故障診断法では, 単一縮退故障, 単一ブリッジ故障(AND, ORブリッジ故障, ドライブ故障), および単一オープン故障を診断対象の故障モデルとする.提案する故障診断法は, 検出テストおよび非検出テストを用いた単一縮退故障シミュレーションを行い, その結果として得られる縮退故障の検出回数を用いて故障モデルと故障候補を推定する.更に, 検出テストおよび非検出テストにおける信号線の信号値, およびそれらのテストに対する単一縮退故障の検出の有無を利用して, 正確な診断を行う.ISCAS'85およびフルスキャン化されたISCAS'89ベンチマーク回路に対する評価実験結果では, 約90%の故障回路において故障モデルが正しく推定された.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2005-02-11
著者
-
山崎 浩二
明治大学情報コミュニケーション学部
-
高橋 寛
愛媛大学大学院理工学研究科
-
樋上 喜信
愛媛大学工学部情報工学科
-
高橋 寛
愛媛大学工学部情報工学科
-
高松 雄三
愛媛大学工学部情報工学科
-
高松 雄三
愛媛大学
-
山崎 浩二
明治大学
-
山崎 亜佳根
愛媛大学大学院理工学研究科
-
精山 哲也
愛媛大学大学院理工学研究科
-
樋上 喜信
愛媛大学大学院
-
高松 雄三
愛媛大学工学部
-
Takahashi Hiroshi
The Authors Are With The Faculty Of Engineering Ehime University
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