欠陥検出テストのためのテストパターン選択(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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微細化加工技術の進展に伴って,配線の欠陥によって生じる不良モードの多様化が問題となっている.そのため,従来の縮退故障および遷移故障に対するテストパターンでは十分なテストができない.本稿では,まず,故障励起関数および活性化経路評価関数に基づいて遷移故障テストパターンを評価するメトリクスを提案する.次に,それらのメトリクスに基づいてn回検出テスト集合からテストパターンを選択する手法を提案する.評価実験結果から,提案手法により得られたテストパターン集合は,より少ないテストパターン数でより多くの故障モデルを検出できることを示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2011-02-07
著者
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樋上 喜信
愛媛大学大学院理工学研究科
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高橋 寛
愛媛大学大学院理工学研究科
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高橋 寛
愛媛大学大学院
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樋上 喜信
愛媛大学大学院
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高橋 寛
山形大 工
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酒井 孝郎
愛媛大学大学院
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古谷 博司
愛媛大学大学院理工学研究科
-
Takahashi Hiroshi
The Authors Are With The Faculty Of Engineering Ehime University
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