組合せ回路に対する欠陥考慮テストパターンの一生成法(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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微細化加工技術の進展に伴って,配線の欠陥によって生じる不良モードの多様化が問題となっている.そのため,品質保証のために,従来の縮退故障に加えてブリッジ故障およびオープン故障を検出できるテストパターンが必要となっている.本稿では,多様な故障モデルの故障励起条件を利用した欠陥考慮テストパターンの生成法を提案する.提案手法では,テストパターンの欠陥検出確率に基づいて,与えられたテストパターン集合から欠陥考慮テストパターンを選択する.評価実験結果から,提案手法により得られた欠陥考慮テストパターン集合は,より少ないテストパターン数でより多くの故障モデルを検出できることを示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2009-02-09
著者
-
和泉 太佑
愛媛大学大学院理工学研究科
-
樋上 喜信
愛媛大学大学院理工学研究科
-
高橋 寛
愛媛大学大学院理工学研究科
-
高松 雄三
愛媛大学大学院理工学研究科
-
高松 雄三
愛媛大学
-
相京 隆
半導体理工学研究センター(STARC)
-
相京 隆
愛媛大学大学院理工学研究科
-
高橋 寛
愛媛大学大学院
-
樋上 喜信
愛媛大学大学院
-
高橋 寛
山形大 工
-
Takahashi Hiroshi
The Authors Are With The Faculty Of Engineering Ehime University
-
高松 雄三
愛媛大学大学院 理工学研究科
-
相京 隆
愛媛大学大学院 理工学研究科
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