D-10-2 動的なオープン故障に対するテストパターン生成法(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2008-03-05
著者
-
樋上 喜信
愛媛大学大学院理工学研究科
-
高橋 寛
愛媛大学理工学研究科電子情報工学専攻
-
高松 雄三
愛媛大学理工学研究科電子情報工学専攻
-
高橋 寛
愛媛大学大学院理工学研究科
-
高松 雄三
愛媛大学
-
相京 隆
半導体理工学研究センター(STARC)
-
渡部 哲也
愛媛大学大学院
-
相京 隆
愛媛大学大学院理工学研究科
-
樋上 喜信
愛媛大学大学院
-
樋上 喜信
愛媛大学 工学部
-
高橋 寛
愛媛大学 工学部情報工学科
-
Takahashi Hiroshi
The Authors Are With The Faculty Of Engineering Ehime University
-
高橋 寛
愛媛大学
-
樋上 喜信
愛媛大学
-
相京 隆
愛媛大学大学院 理工学研究科
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