改良Booth法に基づく乗算回路のC-テスタブル設計について
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概要
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本稿では,改良Booth法に基づく乗算回路のテスト容易化設計について考察し,2つのC-テスタブルな乗算回路を提案する.単一縮退故障モデルに対するC-テスタブルな乗算回路は,一つの付加外部入力と17個のテストゾーンが必要である.また,セル故障モデル(CFM)に対するC-テスタブルな乗算回路は,それぞれのセルに全ての入力の組合せが印加できる.このC-テスタブルな乗算回路は,一つの付加外部入力と34個のテストパターンが必要である.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-03-06
著者
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