順序回路に対する消費電力削減のためのテストベクトル変更法(<特集>システムLSIの設計技術と設計自動化)
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概要
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携帯用機器に搭載されるような低消費電力のVLSIでは,テスト時においても消費電力を考慮したテストベクトルの印加が必要である.本論文では,CMOS順序回路のテスト時の消費電力を削減するようにテストベクトルを変更する手法を提案する.提案法では,回路の消費電力を信号値が遷移するゲート数で評価し,与えられたテスト系列に対して,元の縮退故障検出率を維持したまま,信号値が遷移するゲート数ができるだけ少なくなるように変更する.まず,与えられたテスト系列を複数の部分系列に分割し,その後各部分系列を,(1)回路の状態を遷移させる部分系列と,(2)故障を活性化し故障の影響を外部出力に伝搬する部分系列,の2種類に分類する.テストベクトル変更については,外部入力値を1ビットずつ反転させる手法を用いる.元の縮退故障検出率を保証するためには,(1)の部分系列については論理シミュレーションを,(2)の部分系列に対しては故障シミュレーションを用いる.最後に,提案法をプログラム化しISCAS'89ベンチマーク回路に適用した結果によって,提案法の有効性を確認する.
- 2002-05-15
著者
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