単一冗長故障を含む2重縮退故障に対するテスト生成について
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概要
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単一冗長故障のみが存在する回路は, テストにおいて正常と判断されるが, そのような回路に別の縮退故障が後から生じた場合, たとえ完全な単一縮退故障に対するテストパターンを用いても, その回路を故障回路と判定できない場合がある.そこで本研究では, このような問題を解決するために, 単一冗長故障を含む2重縮退故障に対するテスト生成法を提案する.提案法では, 検出不可能な2重縮退故障の判定と, 単一縮退故障用テスト生成器を用いたテスト生成を行う.また提案法の有効性を確認するために, ISCAS'85ベンチマーク回路に対する実験結果を示す.
- 一般社団法人情報処理学会の論文
- 2000-02-09
著者
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