論理回路に対するテストコスト削減法 : テストデータ量及びテスト実行時間の削減
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概要
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論理回路の大規模化とともに,テストコストの増大が深刻な問題となっている.特に大規模な論理回路では,テストデータ量やテスト実行時間の削減が,テストコスト削減の重要な課題である.本論文では,高い故障検出率のテストパターンをできるだけ少ないテストベクトル数で実現するためのテストコンパクション技術,付加ハードウェアによるテストデータの展開・伸長を前提に圧縮を行うテストコンプレッション技術,及び,スキャン設計回路におけるテスト実行時間削減技術について概説する.
- 2004-03-01
著者
-
樋上 喜信
愛媛大学工学部情報工学科
-
高松 雄三
愛媛大学
-
市原 英行
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
樋上 喜信
愛媛大学大学院
-
梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
-
高松 雄三
愛媛大学工学部
-
梶原 誠司
九州工業大学
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