閾値テストのための5値論理に基づくテスト生成アルゴリズムに関する考察(設計/テスト/検証,設計/テスト/検証)
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概要
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回路に故障が存在しても出力に重大な影響を与えない故障を許容故障という.許容故障を考慮した16値論理に基づく閾値テスト生成アルゴリズムが提案されている.このアルゴリズムでは,16値論理を用いているため,故障の誤りの大きさの上界と下界を高い精度で計算することができるものの,外部入力への1つの値の割当てから行う含意操作の計算量は大きい.本論文では,閾値テスト生成の高速化を目的とした5値論理に基づく閾値テスト生成アルゴリズムを提案する.5値論理は,16値論理に比べて外部入力値の割当てから行う含意操作の計算量が小さいため,閾値テスト生成の高速化が期待できる.5値論理を用いて,小さい計算量でできるだけ高い精度で誤りの上界と下界を求めるために,提案手法ではXパス検査の結果を利用する.ISCAS'85ベンチマークを用いた実験結果から,16値論理に基づく閾値テスト生成アルゴリズムに比べて,提案手法は短時間で閾値テストパターンを生成可能であることを示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2009-06-12
著者
-
井上 智生
広島市立大学情報科学部
-
市原 英行
広島市立大学情報科学部
-
市原 英行
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
吉川 祐樹
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
井上 智生
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
出水 伸和
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
井上 智生
広島市立大学大学院 情報科学研究科
-
市原 英行
広島市立大学大学院 情報科学研究科
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