単一縮退故障用組合せテスト生成アルゴリズムを用いた無閉路順序回路のテスト生成
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概要
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時間展開モデルを用いた無閉路順序回路のテスト生成では, 単一縮退故障を対象にしていても, 時間展開モデル上では多重縮退故障として扱う必要がある.本論文では, 多重縮退故障を単一縮退故障として扱うための回路モデルを用いた, 時間展開モデル上の多重縮退故障用テスト生成手法を提案する.これにより, 単一縮退故障用組合せテスト生成アルゴリズムを用いて無閉路順序回路の多重縮退故障のテスト生成を行うことが可能となる.計算機実験では, 既存の組合せ回路用のATPGツールを用いて無閉路順序回路のテスト生成を行い, 故障検出率効率の高いテスト系列を短時間で生成できることを示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2000-11-23
著者
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