A Practical Threshold Test Generation for Error Tolerant Application
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概要
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Threshold testing, which is an LSI testing method based on the acceptability of faults, is effective in yield enhancement of LSIs and selective hardening for LSI systems. In this paper, we propose test generation models for threshold test generation. Using the proposed models, we can efficiently identify acceptable faults and generate test patterns for unacceptable faults with a general test generation algorithm, i.e., without a test generation algorithm specialized for threshold testing. Experimental results show that our approach is, in practice, effective.
- （社）電子情報通信学会の論文
- 2010-10-01
著者
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ICHIHARA Hideyuki
Hiroshima City University
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INOUE Tomoo
Hiroshima City University
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市原 英行
広島市立大学大学院情報科学研究科
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Yoshikawa Yuki
Hiroshima City University
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Inoue Tomoo
Hiroshima City Univ. Hiroshima‐shi Jpn
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SUTOH Kenta
Hiroshima City University
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