過剰テスト緩和のためのテスト生成モデルと故障の許容性に基づくテストへの応用(安全性及び一般)
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概要
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正常に動作するチップを不良と判断してしまう過剰テストは,実効歩留まりの低下を引き起こす.本論文では,過剰テスト緩和を目的とした選択的テスト生成モデルを提案する.このモデルを用いることで,一般的なATPGアルゴリズムを利用して,過剰テストの原因となる検出すべきでない故障の検出回避を指向したテスト生成が可能となる.さらにこのモデルを故障の許容性に基づくテスト生成に応用した場合について考察する.テスト生成問題を2つの最適化問題として定式化し,提案した選択的テスト生成モデルを用いた回路の誤り発生率を最小化するための近似アルゴリズムを提案する.
- 2012-12-07
著者
-
岩垣 剛
北陸先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
市原 英行
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
井上 智生
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
岩垣 剛
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
櫻田 正明
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
井上 智生
広島市立大学大学院 情報科学研究科
-
岩垣 剛
広島市立大学大学院 情報科学研究科
-
市原 英行
広島市立大学大学院 情報科学研究科
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