不連続再収斂構造に基づくパス遅延故障に対する部分拡張スキャン設計法
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概要
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本稿では,パス遅延故障に対してテスト生成が容易な順序回路の構造として,不連続再収斂構造を提案し,不連続再収斂順序回路のパス遅延故障に対するテスト生成法を示す.また,不連続再収斂順序回路におけるパス遅延故障に対するテスト生成問題が,その時間展開モデルにおけるセグメント遅延故障に対するテスト生成問題に帰着できることを示す.さらに本稿では,不連続再収斂構造に基づく部分拡張スキャン設計法も提案する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2002-02-15
著者
-
岩垣 剛
北陸先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
大竹 哲史
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科:科学技術振興機構 Crest
-
岩垣 剛
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
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