高信頼組込み自己テストのための耐故障テスト生成器に関する考察(設計/テスト/検証)
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概要
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BIST回路(テスト生成器や応答圧縮器など)の故障は,被テスト回路に対するテスト実行結果の判定を誤らせる可能性があり,歩留まりの低下や市場不良の増加の原因となる.仮にBIST回路に対して耐故障設計が施されていれば,BIST回路に故障が発生したとしても無故障時と同様の期待動作が可能となり,組込み自己テストによるテスト実行結果はより高信頼となる.本論文では,高信頼組込み自己テストを実現するために2種類の耐故障テスト生成器を考案する.これら2種類の耐故障テスト生成器に加えて既存の救済機構付きテスト生成器を取り上げ,テスト生成器に永久故障または一時故障を仮定した際の信頼性について議論する.評価実験により,考案した2つのテスト生成器がそれぞれ永久故障,一時故障の仮定の下で有効であることを示す.
- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 2012-06-15
著者
-
岩垣 剛
北陸先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
市原 英行
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
井上 智生
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
深澤 祐樹
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
岩垣 剛
広島市立大学大学院情報科学研究科
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井上 智生
広島市立大学大学院 情報科学研究科
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岩垣 剛
広島市立大学大学院 情報科学研究科
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市原 英行
広島市立大学大学院 情報科学研究科
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