画像伸張回路を用いた組込みテスト生成に関する実験的考察(テスト設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
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概要
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近年,LSIテスト手法の1つとして組込み自己テストが利用されている.組込み自己テストでは,LSI内部にテストベクトル系列を生成するためのテストパタン生成器を付加する必要がある.本論文では,マルチメディアコアを持つシステムLSIにおいて,LSIに搭載されている画像伸張回路をテストパタン生成器として利用する手法を提案する.これにより,LSI内部に組込み自己テストのために別途テストパタン生成器を付加する必要がなくなり,面積オーバーヘッドの削減が期待できる.さらに,JPEG画像用のテストパタン生成器を利用したテストパタン生成器のための,初期値(シード)生成法を提案する.提案したシード生成アルゴリズムは,高い故障検出率を持つテストベクトル系列に展開可能でデータ量の小さいシード集合を生成可能である.実験結果から,提案法は従来法に比べて,同程度の故障検出率を少ないシードデータ量と短いテストベクトル系列長で達成できることがわかる.
- 2010-11-22
著者
-
井上 智生
広島市立大学情報科学部
-
市原 英行
広島市立大学情報科学部
-
市原 英行
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
吉川 祐樹
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
井上 智生
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
岩本 由香
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
井上 智生
広島市立大学大学院 情報科学研究科
-
市原 英行
広島市立大学大学院 情報科学研究科
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