FPGAを用いた耐故障システムの信頼性と性能に関する考察(ディペンダブルコンピューティングシステム及び一般)
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概要
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FPGA(Field Programmable Gate Array)は今日広く利用されているVLSIであり,回路構成情報であるコンテキストを変更することで,任意の論理回路を再構成することが可能である.FPGAを複数の構成ブロック(誤り検出の単位)に分割し,故障が発生したブロックを分離して再構成することによってシステムを復旧する耐故障システムがこれまでにいくつか提案されている.このようなFPGAを用いた耐故障システムは,漸次縮退システムと待機冗長システムの2つに大きく分けられ,これらのシステムは,FPGAの分割数や再構成の可能な回数によってシステムの信頼性や性能が変化することが考えられる.そこで本論文では,漸次縮退システムと待機冗長システムを評価,比較するために,2つのシステムの信頼性および性能を評価可能なモデルを提案し,それらの関係について考察する.また,2つのシステムを比較し,それぞれの耐故障システムの適したケースを考える.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2008-04-16
著者
-
井上 智生
広島市立大学情報科学部
-
市原 英行
広島市立大学情報科学部
-
市原 英行
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
吉川 祐樹
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
井上 智生
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
藤恵 里司
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
野地 亮志
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
藤恵 里司
広島市大 大学院情報科学研究科
-
野地 亮志
広島市大 大学院情報科学研究科
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