テスト可能な応答圧縮器におけるマルチサイクルシグネチャの効果について(設計/テスト/検証)
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概要
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組込み自己テスト(BIST)手法において,筆者らは文献[8]にて被テスト回路と同時にテスト可能な符号化応答圧縮器を提案している.本研究では,提案した符号化応答圧縮器に対して,シグネチャを複数回観測するマルチサイクルシグネチャを適用した場合の効果について議論する.マルチサイクルシグネチャを用いることにより符号化応答圧縮器の同時テスト可能性の能力を表す自己判別率を向上することができる.さらに,符号化応答圧縮器の自己判別率,巡回符号の冗長ビットの大きさ,そしてシグネチャの観測回数の間に成立する関係を明らかにする.これにより符号化応答圧縮器の設計において,十分な自己判別率を得るために必要な圧縮器の回路面積とシグネチャの観測回数を与えることができる.ベンチマーク回路に対する実験では,得られた回路面積と観測回数が妥当であり,マルチサイクルシグネチャを導入することにより設計制約に応じた柔軟な設計が可能になることを示している.
- 2011-06-17
著者
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