テスト圧縮・展開手法におけるバッファ付き展開器について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
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概要
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ハフマン符号などの可変長符号を用いたテストデータ圧縮・展開手法は, テスト実行時間の増加およびテスタメモリ不足の問題に対して有効な手法である. 本論文では, 可変長符号のためのバッファを持つ埋め込み展開器を提案し, その特性を議論する. 提案する展開器はバッファを持つため, テスタと展開器の間に同期フィードバック機構を付加する必要が無い. さらに, 埋め込み展開器の回路面積オーバーヘッドを小さくするために, バッファサイズを削減する手法を提案する. バッファサイズはテストベクトルの入力順に依存するため, テストベクトルの並び替えによって削減が可能である. 実験結果において, 提案アルゴリズムはバッファサイズを最大97%削減可能であることを示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2005-01-21
著者
-
井上 智生
広島市立大学情報科学部
-
新谷 道広
(株)半導体理工学研究センター
-
新谷 道広
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
越智 正邦
広島市立大学情報科学部
-
市原 英行
広島市立大学情報科学部
-
市原 英行
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
井上 智生
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
新谷 道広
京都大学大学院情報学研究科
-
井上 智生
広島市立大学大学院 情報科学研究科
-
市原 英行
広島市立大学大学院 情報科学研究科
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