IDDQ電流による大域プロセスばらつきの推定手法 (VLSI設計技術)

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概要

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• 2012-03-06

著者

• 新谷 道広

  (株)半導体理工学研究センター

• 佐藤 高史

  京都大学大学院情報学研究科

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