A-3-14 リーク電流測定用トランジスタアレイ回路の測定(A-3. VLSI設計技術,一般セッション)

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概要

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• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 2008-03-05

著者

• 佐藤 高史

  東京工業大学統合研究院

• 益 一哉

  東京工業大学

• 植山 寛之

  東京工業大学統合研究院

• 中山 範明

  東京工業大学大学院 総合理工学研究科

• 佐藤 高史

  京都大学大学院情報学研究科

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