A-3-22 MOSFETのリーク電流ばらつき測定のための回路検討(A-3.VLSI設計技術,一般講演)
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2006-09-07
著者
-
岡田 健一
東京工業大学大学院理工学研究科電子物理工学専攻
-
岡田 健一
Tokyo Inst. Of Technol. Yokohama‐shi Jpn
-
佐藤 高史
東京工業大学統合研究院
-
益 一哉
東京工業大学
-
中山 範明
(株)半導体理工学研究センター(STARC)
-
上薗 巧
東京工業大学統合研究院
-
萩原 汐
東京工業大学統合研究院
-
中山 範明
東京工業大学大学院 総合理工学研究科
-
岡田 健一
東京工業大学
-
藤久 雄己
東京工業大学統合研究院
-
佐藤 高史
京都大学大学院情報学研究科
-
上薗 巧
京都大学大学院情報学研究科:(独)日本学術振興会
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