CS-1-3 Si-CMOS基板上ダミーメタル入り伝送線路特性の固有値解析と測定(CS-1.周期系・不規則系における電磁波散乱・導波問題:理論、数値解析と応用,シンポジウムセッション)
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概要
- 論文の詳細を見る
- 2010-08-31
著者
-
広川 二郎
東京工業大学電気電子工学専攻
-
安藤 真
東京工業大学 電気電子工学専攻
-
岡田 健一
東京工業大学大学院理工学研究科電子物理工学専攻
-
安藤 真
東京工業大学
-
平野 拓一
東京工業大学
-
岡田 健一
Tokyo Inst. Of Technol. Yokohama‐shi Jpn
-
広川 二郎
東京工業大学大学院電気電子工学専攻
-
広川 二郎
東京工業大学
-
小野 雄也
東京工業大学
-
岡田 健一
東京工業大学
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