C-12-37 測定系の侵襲性を定量化可能なオンチップ電源電圧変動の直接測定手法(C-12. 集積回路ABC(測定・評価),一般セッション)

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概要

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• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 2008-03-05

著者

• 佐藤 高史

  東京工業大学統合研究院

• 益 一哉

  東京工業大学

• 山長 功

  東京工業大学統合研究院

• 佐藤 高史

  京都大学大学院情報学研究科

• 山長 功

  村田製作所

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