遅延計算におけるインダクタンスを考慮すべき配線の統計的選別手法

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概要

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• 本論文では,統計的に寄生インダクタンスLの影響を考慮すべき配線を選別する手法を提案する.本手法は,以下の3つのステップ,すなわち,1)一般のLSI配線を想定した配線構造のバリエーションを生成するステップ,2)3-Dフィールドソルパおよび回路シミュレータを用いてRC遅延とRLC遅延の差(RC遅延誤差)を求めるステップ,3)得られた遅延の差を応答曲面法(RSM)を用いて解析し,駆動ゲート(ドライバ)の強さと,配線長,幅等の配線構造パラメータに対して寄生インダクタンスの考慮が必要となる値の組合せを選別するステッブ,からなる.本統計的選別手法をITRSを参考に想定した100nmプロセスの配線構造に適用し,配線構造パラメータを用いたRC遅延誤差の予測が有効であることを実証した.本適用例では,配線幅が最小線幅の5倍を超えるとRC遅延誤差が20%を超えることが判明した.この結果に基づき,RC遅延誤差の大きい配線のみLを抽出して遅延を求めることが可能となるほか,レイアウト設計時に配線構造パラメータを制御することにより,配線遅延に対する寄生インダクタンスの影響を抑えたレイアウトパターンを作成することが可能となる.

• 一般社団法人情報処理学会の論文
• 2003-05-15

著者

• 橋本 昌宜

  大阪大学大学院情報科学研究科

• 佐藤 高史

  東京工業大学統合研究院

• 佐藤 高史

  株式会社日立製作所半導体グループ

• 北浦 智靖

  株式会社富士通研究所

• 黒川 敦

  株式会社半導体理工学研究センター

• 川上 善之

  松下電器株式会社

• 橋本 昌宜

  京都大学大学院情報学研究科通信情報システム

• 岡 宏規

  Nttアドバンステクノロジ株式会社

• 金本 俊幾

  三菱電機株式会社システムLSI事業統括部

• 小林 宏行

  日本シノプシス株式会社

• 北浦 智康

  (株) 富士通研究所

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