nMOSレベルシフタ回路の性能比較手法について(モデル・回路,組込技術とネットワークに関するワークショップETNET2008)

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概要

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• 製造技術や要求仕様が変更された場合,同じ機能を持つ幾つかの回路のどれが最適かを見出す必要が生じることが多いが,回路性能を評価する基準は複数あるため,最適性の決定は困難な作業となる.本文では,回路の最適化手法を用いた回路評価手法を提案し,これをnMOS単チャネルレベルシフタ回路に適用した結果を報告する.提案手法により,回路の特徴を把握することができ,新たな回路開発にも役立つ.

• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 2008-03-20

著者

• 橋本 昌宜

  大阪大学大学院情報科学研究科

• 白川 功

  兵庫県立大学大学院応用情報科学研究科

• 白川 功

  大阪大学大学院工学研究科情報システム工学専攻

• 白川 功

  兵庫県立大学

• 大津 誠

  中央大学大学院理工学研究科

• 築山 修治

  中央大学大学院理工学研究科

• 築山 修治

  中央大学理工学部電気電子情報通信工学科

• 白川 功

  シャープ株式会社情報技術研究所

• 高橋 真吾

  中央大学大学院理工学研究科

• 橋本 昌宣

  大阪大学情報科学研究科情報システム工学専攻

• 築山 修治

  中央大学理工学研究科

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