動的部分再構成による故障回避に関する一考察(高信頼性と画像認識,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
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概要
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再構成可能デバイスの劣化故障に起因する恒久的エラーを回避する手法として,動的再構成機能を利用した部分配置配線による故障回避手法が提案されている.この故障回避手法により達成される寿命延長効果は,初期のアプリケーションマッピングや未使用構成要素の配置・数,部分配置配線アルゴリズムに依存する.本稿では,再構成可能デバイスの配置配線に広く用いられているVPRを基に故障回避シミュレーションを実行し,初期マッピングと寿命延長効果の関係を調査した.評価結果より,アプリケーションの規模が大きくなるにつれて任意の目標寿命を得るために必要な故障回避可能回数が増加することを示した.また,部分再構成の成功率を高めるため配線使用率を35%以下に抑える設計ガイドラインを示した.
- 2012-11-20
著者
-
橋本 昌宜
大阪大学大学院情報科学研究科
-
今川 隆司
京都大学大学院情報学研究科
-
Onoye Takao
Faculty Of Engineering Osaka University
-
Onoye Takao
Department Of Communications And Computer Engineering Kyoto University
-
今川 隆司
京都大学大学院情報学研究科通信情報システム専攻
-
尾上 孝雄
大阪大学大学院工学研究科情報システム工学専攻
-
郡浦 宏明
大阪大学大学院情報科学研究科情報システム工学専攻
-
密山 幸男
高知工科大学システム工学群
-
今川 隆司
京都大学大学院情報科学研究科通信情報システム専攻
-
密山 幸男
高知工科大学
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