密山 幸男 | 高知工科大学
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概要
関連著者
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密山 幸男
高知工科大学
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尾上 孝雄
大阪大学大学院工学研究科情報システム工学専攻
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密山 幸男
高知工科大学システム工学群
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Onoye Takao
Faculty Of Engineering Osaka University
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Onoye Takao
Department Of Communications And Computer Engineering Kyoto University
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橋本 昌宜
大阪大学大学院情報科学研究科
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郡浦 宏明
大阪大学大学院情報科学研究科情報システム工学専攻
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若林 一敏
日本電気株式会社
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小野寺 秀俊
京都大学大学院 情報学研究科 通信情報システム専攻
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今川 隆司
京都大学大学院情報学研究科
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尾上 孝雄
大阪大学大学院情報科学研究科情報システム工学専攻
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原田 諒
大阪大学大学院情報科学研究科
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今川 隆司
京都大学大学院情報学研究科通信情報システム専攻
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原田 諒
大阪大学 大学院情報科学研究科
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越智 裕之
立命館大学
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尾上 孝雄
大阪大学大学院情報科学研究科
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密山 幸男
大阪大学大学院情報科学研究科
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尾上 孝雄
大阪大学 大学院情報科学研究科
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小野寺 秀俊
京都大学情報学研究科
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尾上 孝雄
大阪大学
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天木 健彦
大阪大学大学院情報科学研究科|JST CREST
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尾上 孝雄
京都大学 大学院 情報学研究科 通信情報システム専攻
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Onoye Takao
Osaka University
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Onoye T
Kyoto Univ. Kyoto‐shi Jpn
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Onoye Takao
Graduate School Of Engineering Osaka University
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Onoye Takao
Department Of Information Systems Engineering Graduate School Of Information Science And Technology
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ALNAJJAR Dawood
大阪大学大学院情報科学研究科情報システム工学専攻
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橋本 昌宣
大阪大学情報科学研究科情報システム工学専攻
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橋本 昌宜
大阪大学 大学院情報科学研究科
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今川 隆司
京都大学大学院情報科学研究科通信情報システム専攻
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天木 健彦
大阪大学大学院情報科学研究科
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野田 真一
日本電気株式会社
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越智 裕之
立命館大学情報理工学部
著作論文
- 動的再構成可能アーキテクチャによる故障回避機構の定量的信頼性評価(信頼性,非同期)
- 4-1 再構成可能ディペンダブルVLSIプラットホーム(4.次世代に向けてのシステムLSI,転換期に来たシステムLSI技術と将来への展望)
- 中性子起因SEMTの電源電圧及び基板バイアス依存性測定(ディペンダブル設計(2),デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
- 動的部分再構成による故障回避に関する一考察(高信頼性と画像認識,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
- 中性子起因SEMTの電源電圧及び基板バイアス依存性測定(デイペンダブル設計(2),デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
- 2.4 耐ソフトエラー再構成可能アーキテクチャ(第2章:放射線によるソフトエラー,ディペンダブルVLSIシステム)
- 確率的動作モデルを用いたオシレータベース真性乱数生成回路のワーストケース設計手法(回路設計,システムオンシリコンを支える設計技術)
- 動作合成に対応した信頼性可変混合粒度再構成可能アーキテクチャの検討(リコンフィギャラブルアーキテクチャ/デバイス,リコンフィギャラブルシステム,一般)
- 再構成可能ディペンダブルVLSIプラットホーム
- 中性子起因SEMTの電源電圧及び基板バイアス依存性測定