中性子起因SEMTの電源電圧及び基板バイアス依存性測定

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概要

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• 2012-11-19

著者

• 尾上 孝雄

  大阪大学 大学院情報科学研究科

• 原田 諒

  大阪大学 大学院情報科学研究科

• 橋本 昌宜

  大阪大学 大学院情報科学研究科

• 密山 幸男

  高知工科大学

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